光焱10月營收年增逾7成創同期新高 量產驗證年底明朗
搶攻AI資料中心、CPO智慧製造商機
【記者呂承哲／台北報導】光電子晶片檢測設備商光焱科技（7728）公布10月合併營收5150.4萬元，年增71.33%，創歷年同期新高，連續兩個月站上5000萬元；累計前10月營收約3.72億元，年增44.63%。隨AI資料中心及矽光子需求升溫，光焱積極推進NightJar晶圓級檢測設備，檢測速度較傳統方式提升約60倍，量產驗證進度預計第四季末明朗。
NightJar檢測速度提升60倍 搶攻晶圓級篩選商機
光焱今年營運呈現逐季成長，第一季營收約1億元、第二季約1.08億元、第三季約1.13億元，第三季年增77.24%。
光焱持續拓展矽光子晶圓級檢測市場，總經理暨技術長廖華賢於11月3日至4日赴荷蘭參加歐洲光子積體電路高峰會（PIC Summit Europe 2026），並於5日SWTest Asia 2026國際晶圓測試研討會分享相關技術。
隨AI資料中心、高速光通訊及共同封裝光學（CPO）發展，矽光子晶片若到昂貴的後段封裝才發現缺陷，將增加製造成本。傳統插入損耗（IL）量測雖可掌握整體光損數值，卻難以定位異常位置。
光焱NightJar運用高光譜成像技術，將光損轉化為具備空間位置、波長及功率資訊的影像，協助辨識波導、耦合結構等局部異常，並可區分光路漏光與電性發光，兼顧光學失效分析（OFA）及電性失效分析（EFA）。
廖華賢指出，NightJar具備「定位、定量、定值」優勢，以檢測64顆晶粒為例，傳統方式約需123分鐘，NightJar僅需121秒，速度提升約60倍，且整片晶圓逐顆比對結果具有高度一致性，可望將光學檢測從事後失效分析延伸至量產前的晶圓級篩選。
導入晶圓光學指紋 NightJar-H量產驗證年底明朗
憑藉高速檢測能力，NightJar將朝晶圓允收測試（WAT）等前段環節切入，蒐集大量晶粒光學特徵，建立整片晶圓光損分布圖，並與既有測試結果交叉比對，提供晶粒風險分級依據，協助工廠判斷哪些晶粒可進入後續製程、需要複檢或提前淘汰，降低不必要的測試及封裝成本。
光焱進一步提出晶圓「光學指紋」概念，透過NightJar累積大量光學特徵，結合晶圓映射建立可追溯的光學指紋，供晶圓廠及IC設計業者結合自身製程經驗進行關聯分析，協助提前預判缺陷、加速良率改善。
廖華賢表示，數據驅動的良率提升模式在電子晶片領域已相當普遍，但光晶片仍處起步階段，關鍵在於能否取得足夠豐富的光學參數，NightJar可補足此一缺口，推動矽光子產業從事後失效分析轉向提前預判的智慧製造。
產品進度方面，NightJar已用於客戶工程驗證及樣品測試，並完成與量產線自動探針台的系統整合；針對高通量需求開發的NightJar-H，則持續推進高量產（HVM）驗證，階段性進度預計第四季末明朗。
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