所羅門攻AI視覺與先進封裝!首秀FOUP全晶圓翹曲技術 搶TGV商機|壹蘋新聞網
記者 綜合報導
【記者呂承哲/台北報導】所羅門(2359)於SEMICON Taiwan 2026聚焦AI視覺與先進封裝,首秀FOUP晶圓匣內全晶圓翹曲檢測技術,可即時掌握晶圓翹曲、傾斜及位移;並推出玻璃通孔(TGV)孔徑瑕疵檢測方案,搶攻AI晶片先進封裝商機。
所羅門。呂承哲攝
所羅門。呂承哲攝

首秀FOUP全晶圓翹曲檢測 降低碰撞停機風險

所羅門表示,隨著實體AI(Physical AI)需求升溫,公司結合AI視覺智慧與前瞻光學技術,透過自動化整合,提供從「感知、判斷到執行」的自動化升級方案,因應半導體產業缺工及製程複雜度持續提高等挑戰。

此次首度展示的FOUP晶圓匣內全晶圓翹曲檢測技術,採用非接觸式光學系統,可在晶圓仍置於FOUP或晶圓匣內時,評估整片晶圓輪廓狀態。

相較傳統晶圓映射或突出檢測多半只能觀察晶圓前半部,新系統透過側向光學感測,在機器人末端執行器進入載具前,即可偵測晶圓翹曲、傾斜或位移,降低搬送過程發生晶圓碰撞、破裂、污染及設備停機的風險。

針對先進封裝與異質整合需求,所羅門同步推出TGV孔徑瑕疵檢測方案,結合AI視覺與自動光學檢測(AOI)技術,可進行TGV孔洞瑕疵檢測及孔徑量測,快速辨識未穿孔、孔徑異常等缺陷,提高檢測效率及品質穩定性,搶攻下一代AI晶片先進封裝商機。

邊緣AI導入設備巡檢 打造智慧半導體廠房

智慧廠房方面,所羅門展示Solomon AMM智慧設備異常偵測技術,結合邊緣AI及外部攝影機感知,並與SolRobo平台整合AI機器視覺、自主移動機器人及機械手臂,可自主前往指定設備執行巡檢。

系統可即時進行儀表讀值、指示燈判讀、物件辨識及設備異常偵測,並透過SolSim呈現數位孿生應用。所羅門指出,相關方案不需大幅更動既有廠房環境,可在不影響連續生產與產能的情況下部署,減輕人工巡檢負擔並降低人為疏漏風險。

此外,所羅門也展示與Rockwell解決方案整合的半導體製程智慧安全應用,透過自動化控制系統強化高科技廠房生產穩定性與製程安全。

所羅門表示,未來將持續結合AI視覺、光學檢測、自主移動機器人及自動化控制技術,從晶圓與先進封裝檢測延伸至智慧巡檢及廠房安全,擴大半導體智慧製造布局。

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