汎銓指出，「MSS HG」整合自有測試主機與Prober載台，結合光學量測、影像判讀與精密機構控制，打造高彈性測試解決方案。相較傳統以大量生產測試為主的設備，該平台鎖定研發驗證、失效分析與少量多樣測試需求，因應矽光子元件開發過程中高變動、低量產的特性。
在應用面上，「MSS HG」聚焦三大方向：
首先，在光學失效定位方面，可在不破壞樣品前提下，精準找出異常光損、漏光與散射光位置，並銜接後續材料分析，大幅提升檢測效率與準確度。
其次，針對研發與工程測試需求，平台可支援多變測試條件，包括溫度、雷射功率與不同設計結構，適用於少量多樣且變因複雜的實驗環境。
第三，該設備具備導入客戶端的潛力，可應用於工廠或研發中心，協助建立內部量測與初步失效判讀能力，推動客戶自建檢測體系。
技術方面，汎銓結合既有專利「光損偵測裝置」，並已取得台灣、日本與美國專利。透過紅外光學顯微系統與影像感測器整合，可對應1310nm與1550nm關鍵波段，精準觀測漏光、散射光與異常熱點，提升矽光子元件失效分析能力。
此外，「MSS HG」強調「光、機、電、像」整合，搭配自製Prober載台，提供穩定且具客製化彈性的測試環境，使設備不僅能取得數據，更能直接觀測缺陷並進行深入分析，提升整體研發效率。
汎銓看好矽光子技術正處於從實驗室走向產業化的關鍵階段，未來將持續投入研發，推進平台升級與驗證，同時結合既有檢測服務，提供從失效定位、工程測試到設備導入的完整解決方案。隨著矽光子應用加速落地，相關檢測需求同步提升，汎銓有望受惠產業成長，挹注中長期營運動能。
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