搶先進製程、矽光子商機!佳世達旗下資騰SEMICON亮相3大解方|壹蘋新聞網
記者 綜合報導
【記者呂承哲/台北報導】半導體先進製程與矽光子技術快速發展,製程量測、晶圓清潔及廠內物流重要性同步提升。佳世達(2352)集團羅昇旗下資騰科技(STC)將於SEMICON Taiwan 2026展示Fractilia CD-SEM量測、ProSys兆聲波晶圓清洗及SEMI-TS廠內物流三大解決方案,鎖定先進製程與矽光子商機,其中晶圓清洗微粒清除效率最高達98%,廠內物流排隊延遲則可降低近50%。
佳世達集團資騰科技將於 SEMICON Taiwan 2026 展出半導體先進製程與矽光子製程三大關鍵解決方案及市場布局。公司提供
佳世達集團資騰科技將於 SEMICON Taiwan 2026 展出半導體先進製程與矽光子製程三大關鍵解決方案及市場布局。公司提供

資騰科技為佳世達集團「AI解決方案與智慧製造」事業布局重要一環,主要聚焦半導體先進製程及矽光子製程中的量測、晶圓清潔與廠內物流等環節,藉由整合國際技術及在地服務,協助客戶提升製程穩定性、生產良率及營運效率。

資騰科技總經理陳國榮表示,隨著先進製程與矽光子快速發展,量測設備可信度、晶圓清潔品質及廠內物流效率,已成為影響良率與生產穩定性的關鍵。資騰透過整合三大解決方案,協助客戶從單點設備優化延伸至跨製程管理,降低生產風險。

在先進製程量測方面,不同世代與品牌的CD-SEM設備,可能因設備差異及狀態漂移,影響跨機台量測一致性。Fractilia旗下FAME EDGE可持續監控設備狀態、辨識量測異常。根據Fractilia資料,低數值孔徑極紫外光微影(Low-NA EUV)的理論解析能力,與受到隨機效應限制的實際量產解析能力,可能存在約5奈米落差,凸顯先進製程量測精準度的重要性。

相關技術也延伸至矽光子領域,Fractilia計算式量測(Computational Metrology)技術可掌握光波導側壁線邊粗糙度(LER)等結構變異,藉此降低光散射及傳輸損耗,目前相關方案已獲全球超過30家半導體及矽光子企業採用。

晶圓清洗方面,ProSys兆聲波晶圓清洗採用專利BevelSonic技術,透過聚焦聲學能量,以非接觸方式清除晶圓邊緣與背面的微粒及污染物,降低交叉污染及晶圓邊緣損傷風險。其中單晶圓兆聲波清洗系統MegPie在化學機械研磨後清洗(Post-CMP)測試中,微粒清除效率(PRE)達98%。

廠內物流部分,SEMI-TS混合式自動物料搬運系統(Hybrid AMHS)結合天車系統(OHT)及無塵輸送帶系統(Clean Conveyor),目前已於中國及韓國建置,透過輸送帶分擔OHT搬運量。依已投產系統數據,排隊延遲可降低近50%;氮氣充填模組則採隨插即用設計,降低設備改機及停機風險。

資騰表示,未來將持續聚焦半導體先進製程及矽光子需求,從量測、晶圓清洗到廠內物流提供跨製程整合方案,掌握新世代半導體製造升級商機。

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